有关集成电路测试数据的处理方法简述
有关集成电路测试数据的处理方法简述集成电路测试数据的处理方法主要分为以下几种：
1．处理临界数据的方法
当检测人员测得值接近临界控制值时，必须增加测量次数，测量结果的发散趋势。对于不同的发展趋势有不同的方法进行对待。
2．比较测定值或计算值与标准规定的极限数值的方法
在判定检测数据是否符合标准要求时，应将检验所得的测试值或计算值与标准规定的极限值进行比较，其中比较的方法有全数值比较法和修约值比较法两种。
3．判定和剔除异常数据的方法
在集成电路测试过程中，会获得正确的或者是偏差数据。当发现异常值时围内，我们应增加测试次数，从而尽可能寻找产生异常值的技术或者物理上的原因，从而对其作出是否剔除的决定。
4．确定测试结果有效位数的方法
对数字式仪表，我们可以按显示器的位数读数即为有效数字。同时我们也可以根据测试仪器的分辨率，确定测试值的有效位数。
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