数字IC可测性设计及其EDA流程

lcytms · 发表于 2019-3-22 09:31:26

本帖最后由 lcytms 于 2019-3-22 09:33 编辑

数字IC可测性设计及其EDA流程

李正光12，雷加2
(1．怀化学院物理系，湖南省怀化市 418008；
2．桂林电子工业学院电子工程系，广西壮族自治区桂林市 541004)

【摘要】
介绍了数字IC可测性设计 (DFT)的概念和方法及其在电子设计自动化(EDA)环境中的实现流程。
DFT实质上就是在设计时更改或添加设计结构和模块，使之能够满足测试的需要。
它的目标包括：所设计的电路和系统易于测试；由此设计所引起的附加硬件应尽可能少；
电路的附加部分对原来电路的性能影响应尽可能少；设计方法的适应面要广。
着重介绍了内建自测试DFT、内扫描DFT、边界扫描DFT、IEEE P1500— —嵌入式核的测试标准。

关键词：可测性设计，IC测试，电子设计自动化 (EDA)

中图分类号：TN407

lcytms · 发表于 2019-3-22 09:34:27

数字IC可测性设计及其EDA流程
p1

lcytms · 发表于 2019-3-22 09:35:20

数字IC可测性设计及其EDA流程
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lcytms · 发表于 2019-3-22 09:36:32

数字IC可测性设计及其EDA流程
p3

lcytms · 发表于 2019-3-22 09:37:45

数字IC可测性设计及其EDA流程
p4

hyhyx1 · 发表于 2019-6-22 10:50:00

这论文水平看来挺高的样子

zxopenfq · 发表于 2021-6-1 16:50:56

666666666666666666666

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