小舍YZ 发表于 2017-7-25 11:30:18

有限状态机设计的一般步骤:
            1)逻辑抽象,得出状态转换图

            2)状态化简

             3)状态分配
   在触发器资源丰富的FPGA或ASIC设计中采用独热编码(one-hot-coding),既可以使电路性能得到保证又可充分利用其触发器数量多的优势,也可以采取输出编码的状态指定来简化电路结构,并提高状态机的运行速度。

4) 选定触发器的类型并求出状态方程、驱动方程和输出方程。

5)   按照方程得出逻辑图

谢谢分享。。。。。。。。。。。。。。。。:lol

lcytms 发表于 2017-7-26 09:34:50

状态机设计的总结:

用Verilog HDL来描述有限状态机,可以充分发挥硬件描述语言的抽象建模能力,使用always块语句和case(if)等条件语句及赋值语句即可方便地实现。
具体的逻辑化简及逻辑电路到触发器映射均可由计算机自动完成,上述设计步骤中的第2步及4、5步不再需要很多的人为干预,使电路设计工作得到简化,效率也有很大的提高。

lcytms 发表于 2017-7-26 09:36:45

逻辑电路的测试

        故障模型
        测试集合的复杂性
        路径的激活
        树状结构的电路
        随机测试
        时序电路的测试
        电路内部自测试(Build-in Self-Test)
        线路板的测试

lcytms 发表于 2017-7-26 09:39:15

逻辑电路的测试
故障模型

信号无法变化的模型
        信号 w 总是固定在0 或 1:
                   stuck_at_0   表示为:w/0
                   stuck_at_1   表示为:w/1

单个故障和多个故障
        把多个故障问题简化为许多个单个故障问题来处理。

CMOS电路的故障特点
        晶体三极管的开路或短路:stuck_at_0 或stuck_at_1
           复杂的情形,不定态;
        组合逻辑变为时序逻辑的行为….

lcytms 发表于 2017-7-27 09:49:03

逻辑电路的测试
测试集合的复杂性

想要知道模块中 a,b,c,d,f 端中是否有电平不能变化的,需要测试信号w1,w2,w3的各种变化组合。
最全的情况有8种,最少有四种:
        测试集合={001,010,011,100}

lcytms 发表于 2017-7-27 09:50:35

逻辑电路的测试
测试路径的激活(Sensitizing)

把w1端的变化直接传到f端,必须把w2置1,w3置0,w4置1。
这叫做从w1到f的路径被激活。

芙蓉王 发表于 2017-7-27 09:56:59

                  很详细,很用洗,楼主辛苦了

lcytms 发表于 2017-7-28 09:15:26

逻辑电路的测试
树状结构的电路

最小测试集合的确定比较麻烦

lcytms 发表于 2017-7-28 09:17:28

扫描路径的安排

lcytms 发表于 2017-7-31 09:45:17

电路内部自测试
(Build-in Self-Test)

在芯片中必须存储有对测试向量的正确响应,经过比较知道被测试电路是否有故障。
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