小舍YZ
发表于 2017-7-25 11:30:18
有限状态机设计的一般步骤:
1)逻辑抽象,得出状态转换图
2)状态化简
3)状态分配
在触发器资源丰富的FPGA或ASIC设计中采用独热编码(one-hot-coding),既可以使电路性能得到保证又可充分利用其触发器数量多的优势,也可以采取输出编码的状态指定来简化电路结构,并提高状态机的运行速度。
4) 选定触发器的类型并求出状态方程、驱动方程和输出方程。
5) 按照方程得出逻辑图
谢谢分享。。。。。。。。。。。。。。。。:lol
lcytms
发表于 2017-7-26 09:34:50
状态机设计的总结:
用Verilog HDL来描述有限状态机,可以充分发挥硬件描述语言的抽象建模能力,使用always块语句和case(if)等条件语句及赋值语句即可方便地实现。
具体的逻辑化简及逻辑电路到触发器映射均可由计算机自动完成,上述设计步骤中的第2步及4、5步不再需要很多的人为干预,使电路设计工作得到简化,效率也有很大的提高。
lcytms
发表于 2017-7-26 09:36:45
逻辑电路的测试
故障模型
测试集合的复杂性
路径的激活
树状结构的电路
随机测试
时序电路的测试
电路内部自测试(Build-in Self-Test)
线路板的测试
lcytms
发表于 2017-7-26 09:39:15
逻辑电路的测试
故障模型
信号无法变化的模型
信号 w 总是固定在0 或 1:
stuck_at_0 表示为:w/0
stuck_at_1 表示为:w/1
单个故障和多个故障
把多个故障问题简化为许多个单个故障问题来处理。
CMOS电路的故障特点
晶体三极管的开路或短路:stuck_at_0 或stuck_at_1
复杂的情形,不定态;
组合逻辑变为时序逻辑的行为….
lcytms
发表于 2017-7-27 09:49:03
逻辑电路的测试
测试集合的复杂性
想要知道模块中 a,b,c,d,f 端中是否有电平不能变化的,需要测试信号w1,w2,w3的各种变化组合。
最全的情况有8种,最少有四种:
测试集合={001,010,011,100}
lcytms
发表于 2017-7-27 09:50:35
逻辑电路的测试
测试路径的激活(Sensitizing)
把w1端的变化直接传到f端,必须把w2置1,w3置0,w4置1。
这叫做从w1到f的路径被激活。
芙蓉王
发表于 2017-7-27 09:56:59
很详细,很用洗,楼主辛苦了
lcytms
发表于 2017-7-28 09:15:26
逻辑电路的测试
树状结构的电路
最小测试集合的确定比较麻烦
lcytms
发表于 2017-7-28 09:17:28
扫描路径的安排
lcytms
发表于 2017-7-31 09:45:17
电路内部自测试
(Build-in Self-Test)
在芯片中必须存储有对测试向量的正确响应,经过比较知道被测试电路是否有故障。
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